High Accuracy Fluorescence Guided Focused Ion Beam Milling
Questo articolo presenta flussi di lavoro avanzati di fresatura criogenica FIB guidata dalla fluorescenza che utilizzano strategie di targeting distinte per diverse dimensioni degli oggetti per superare gli errori di registrazione e consentire l'acquisizione routinaria e ad alta precisione sia di strutture cellulari grandi che piccole per la tomografia crioelettronica.